Zeta電位分析儀是一種用于測量分散體系中粒子表面電荷的儀器，廣泛應(yīng)用于膠體化學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域。
一、工作原理
Zeta電位分析儀通過測量分散體系中粒子在電場作用下的遷移率來計算Zeta電位。具體工作原理如下：
電泳遷移率測量：分析儀向分散體系施加一個已知強度的電場。在電場作用下，帶電粒子會向相反電極遷移。
光散射檢測：粒子在電場中的遷移過程會產(chǎn)生散射光。分析儀通過檢測散射光的變化來監(jiān)測粒子的遷移情況。
數(shù)據(jù)處理與計算：分析儀收集并處理散射光數(shù)據(jù)，根據(jù)Henry方程或Smoluchowski方程計算出粒子的電泳遷移率。然后，結(jié)合溶液的粘度、介電常數(shù)等參數(shù)，計算出Zeta電位。
二、測量原理
Zeta電位的測量原理基于電泳現(xiàn)象和Smoluchowski方程。當(dāng)帶電粒子在電場中遷移時，其受到的電場力與黏滯阻力達(dá)到平衡，此時粒子的遷移速度稱為電泳遷移率。
通過測量電泳遷移率，并結(jié)合已知介質(zhì)的物理參數(shù)，可以計算出Zeta電位。Zeta電位反映了粒子表面的電荷狀況，對于研究分散體系的穩(wěn)定性、顆粒間的相互作用等方面具有重要意義。
Zeta電位分析儀通過測量分散體系中粒子在電場作用下的遷移率，結(jié)合相關(guān)理論公式，計算出Zeta電位。這一原理使得它成為研究膠體化學(xué)、生物學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域中粒子表面電荷特性的重要工具。
